81. Principles of nano-optics
پدیدآورنده : Novotny, Lukas.
کتابخانه: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (طهران)
موضوع : ، Nanostructured materials,، Near-field microscopy,، Quantum optics,، Photonics,، Nanophotonics
رده :
TA
418
.
9
.
N35
N68
2006
82. Principles of nano-optics
پدیدآورنده : Novotny, Lukas.,Lukas Novotny, Bert Hecht
موضوع : ، Nanostructured materials,، Near-field microscopy,، Quantum optics
۴ نسخه از این کتاب در ۴ کتابخانه موجود است.
83. Recent developments in thin film research : epitaxial growth and nanostructures, electron microscopy, and X-ray diffraction : Proceedings of Symposium B on Epitaxial Thin Film Growth and Nanostructures and Proceedings of Symposium C on Recent Developments in Electron Microscopy and X-Ray Diffraction of Thin Film Structures of the 1997 ICAM/E-MRS Spring Conference, Strasbourg, France, June 16-20, 1997
پدیدآورنده : ]G. Ritter ... et al., editors[
کتابخانه: (طهران)
موضوع : Thin films, Epitaxy, Nanostructure materials, Electron microscopy, X-rays - Diffraction
رده :
TA
418
.
9
.
T45
S94
1997
84. Recent developments in thin film research :epitaxial growth and nanostructures, electron microscopy, and x-ray diffraction : proceedings of Symposium B on Epitaxial Thin Film Growth and Nanostructures and proceedings of Symposium C on Recent Developments in Electron Microscopy and X-Ray Diffraction of Thin Film Structures of the 1997 ICAM/E-MRS Spring Conference, Strasbourg, France, June 16-20, 1997
پدیدآورنده : ]G. Ritter ... et al., editors[
کتابخانه: (طهران)
موضوع : ، Thin films,، Epitaxy,، Nanostructured materials,، Electron microscopy,Diffraction ، X-rays
رده :
TA
418
.
9
.
T45
S94
1997
85. Recent developments in thin film research: epitaxial growth and nanostructures, electron microscopy, and x-ray diffraction: proceedings of Symposium B on Epitaxial Thin Film Growth and Nanostructures and proceedings of Symposium C on Recent Developments in Electron Microscopy and X-Ray Diffraction of Thin Film Structures of the 1997 ICAM/E-MRS Spring Conference, Strasbourg, France, June 16-20, 1997
پدیدآورنده :
کتابخانه: كتابخانه مركزي دانشگاه صنعتي شريف (طهران)
موضوع : Congresses ، Thin films,Congresses ، Epitaxy,Congresses ، Nanostructure materials,Congresses ، Electron microscopy,Congresses ، X-rays-- Diffraction
رده :
TA
418
.
9
.
T45
.
S94
1997
86. SEM: a users manual for materials science
پدیدآورنده : / By B. Gabriel
کتابخانه: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع : Microscope and microscopy,Electron microscope,Scanning electron microscopes,Structured materials
رده :
TA417
.
23
.
G28
1985
87. Scanning Probe Microscopy
پدیدآورنده :
کتابخانه: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)
موضوع : xA0;. ; Condensed matter. ; Spectroscopy and Microscopy. ; &xA0; &xA0; &Surfaces. ; Thin films. ; Materials science. ; Physical measurements. ; Measurement-Spectroscopy. ; Microscopy. ; Materials
88. Scanning probe microscopy: characterization, nanofabrication and device application of functional materials
پدیدآورنده : edited by Paula Maria Vilarinho, Yossi Rosenwaks and Angus Kingon
کتابخانه: (سمنان)
موضوع : Congresses ، Materials- Microscopy,Congresses ، Scanning probe microscopy
رده :
TA
417
.
23
.
S33
89. Scanning probe microscopy: characterization, nanofabrication and device application of functional materials
پدیدآورنده :
کتابخانه: كتابخانه مركزي دانشگاه صنعتي شريف (طهران)
موضوع : Congresses ، Materials-- Microscopy,Congresses ، Scanning probe microscopy
رده :
TA
417
.
23
.
N384
2002
90. Scanning probe microscopy for industrial applications
پدیدآورنده : / edited by Dalia G. Yablon
کتابخانه: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع : Materials--Microscopy,Scanning probe microscopy--Industrial applications
رده :
TA417
.
23
.
S33
2014
91. Scanning probe microscopy in nanoscience and nanotechnology
پدیدآورنده :
موضوع : ، Scanning probe microscopy.,Microscopy ، Nanostrutured materials
۴ نسخه از این کتاب در ۴ کتابخانه موجود است.
92. Scanning probe microscopy in nanoscience and nanotechnology
پدیدآورنده : / edited by Bharat Bhushan
کتابخانه: المكتبة المركزية بجامعة تبريز و مركز التوثيق والنشر (أذربایجان الشرقیة)
موضوع : Scanning probe microscopy,Nanostructured materials - Microscopy
رده :
QH212
S33S383
2011
93. Scanning probe microscopy in nanoscience and nanotechnology
پدیدآورنده : / Bharat Bhushan, editor
کتابخانه: المكتبة المركزية بجامعة تبريز و مركز التوثيق والنشر (أذربایجان الشرقیة)
موضوع : Scanning probe microscopy,Nanostructured materials--Microscopy
رده :
QH212
.
S33S383
2010
94. Scanning transmission electron microscopy of nanomaterials : basics of imaging and analysis
پدیدآورنده : ]edited by[ Nobuo Tanaka, Nagoya University, Japan
کتابخانه: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (طهران)
موضوع : ، Scanning transmission electron microscopy,، Nanostructured materials
رده :
QH
212
.
S34
S23
2014
95. Structural and chemical analysis of materials : X-ray, electron and neutron diffraction; X-ray, electron and ion spectrometry; electron microscopy,Analyse structurale et chimique des materiaux. English
پدیدآورنده : Eberhart, J. P.)Jean Pierre(
کتابخانه: كتابخانه مركزي دانشگاه صنعتي شريف (طهران)
موضوع : ، Materials-- Microscopy,، Microstructure
رده :
TA
417
.
23
.
E2413
1991
96. Structural and chemical analysis of materials:X-ray,electron and neutron diffraction,X-ray,electron and ion spectrometry electron microscopy.
پدیدآورنده : / J.P.Eberhart.
کتابخانه: المكتبة المركزية لجامعة إيلام (إیلام)
موضوع : Materials-Microscopy,Microstructure
رده :
TA417
.
23
.
E2413
1991
97. Structural and chemical analysis of materials : X-ray, electron and neutron diffraction; X-ray, electron and ion spectrometry; electron microscopy
پدیدآورنده : Eberhart, Jean Pierre
کتابخانه: (طهران)
موضوع : ، Materials -- Microscopy,، Microstructure
رده :
TA
417
.
23
.
E2413
1991
98. Structural and chemical analysis of materials : X-ray, electron and neutron diffraction; X-ray, electron and ion spectrometry; electron microscopy
پدیدآورنده : Eberhart, Jean Pierre
کتابخانه: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (طهران)
موضوع : ، Materials - Microscopy,، Microstructure
رده :
TA
417
.
23
.
E2413
1991
99. Structural and chemical analysis of materials:X-ray electron and neutron diffraction,X-ray,electron and ion spectrometry electron microscopy
پدیدآورنده : / J.P.Eberhart
کتابخانه: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)
موضوع : Materials - Microscopy,Microstructure
رده :
TA417
.
23
.
E2413
1991
100. Symposium on microscopy,presented at the sixty second annual meeting, Atlantic City, N.J., June 25-26, 1959
پدیدآورنده :
کتابخانه: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (طهران)
موضوع : ، Microscopy,Testing ، Materials
رده :
TA
406
.
5
.
A47
1959